菲希爾X射線測厚儀 鍍層厚度測量

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-ray測量模式用于：

單、雙及三層鍍層系統(tǒng)；

雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量；

雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析 （兩層的厚度和合金成分都能被測量）； 

能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量；

可編程的應用項圖標，用于快速應用項選擇 ；

完整的統(tǒng)計功能，SPC圖，標準的概率圖和矩形圖評估 ；

報告生成，數(shù)據(jù)輸出；

菜單中的某些選擇項可授權使用；

語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文 ；

菲希爾X射線測厚儀注： 

基礎WinFTM軟件版本不允許創(chuàng)建新的應用，所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時，

可在交貨前預先創(chuàng)建應用。若沒有定購校準標準塊，則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。

可選擇的Super WinFTM軟件（訂貨號602-950）提供了以下的附加功能：

可隨意創(chuàng)建測量應用；

可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度；

快速的頻譜分析以決定合金成分。

菲希爾X射線測厚儀 鍍層厚度測量