金屬鍍層測(cè)厚儀

德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測(cè)厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開(kāi)發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別適合于無(wú)損厚度測(cè)量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動(dòng)測(cè)量。有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)打開(kāi)防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。

菲希爾X射線測(cè)厚儀應(yīng)用實(shí)例：

XDLM測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)常用來(lái)測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如先進(jìn)或突起，測(cè)量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測(cè)量橢圓形樣品時(shí)，就要使用開(kāi)槽的準(zhǔn)直器以獲得大的信號(hào)強(qiáng)度。